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1.はじめに

2.使用される単語

3.文法定義表記方法

4.文法定義

4.1 BSDLの構造

4.2 Generic

parameter文

4.3 Logical port

description文

4.4 Standard use文

4.5 Use文

4.6 Compornent

conformance文

4.7 Device package

pinmappings文

4.8 Grouped port

identification文

4.9 Scan port

identification文

4.10 Compliance enabel

description文

4.11 Instruction register

description文

4.12 Optional register

description文

4.13 Register access

description文

4.14 Boundary register

description文

4.15 RUNBIST

description文

4.16 INTEST description

4.17 User extensions

to BSDL

4.18 Design Warning文

 

5.Standard VHDL

Package

5.1 1990年版

5.2 1994年版

5.3 2001年版

 

6.各バージョンにおける

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4.10 Compliance enabel description 

Compliance enable description は、バウンダリスキャン試験に影響を与える信号に対する安全なパターンを示します。Compliance enable description で定義された信号は、バウンダリスキャン試験を行う場合、設定されたパターンを入力し続けなければなりません。

<compliance enable description> ::=

attribute COMPLIANCE_PATTERNS of

<component name> : entity is

<compliance pattern string>;

<compliance pattern string> ::=

W ( <compliance port list> )

( <pattern list> ) W

<compliance port list> ::=

<port ID> { , <port ID> }

<pattern list> ::=

<pattern> { , <pattern> }

<compliance port list>に複数の<port ID>が定義される場合、<port ID>の並びの順に<pattern list>のビットが対応します。

 

例:

attribute COMPLIANCE_PATTERNS of hogeLSI : entity is

W(xEN1 , xEN2 , xEN3 , xEN4), (1111)W ;

Std.1149.1bに準拠した試験を実行するソフトウェアは、デバイスの試験を実行する前に、Compliance enable状態を保証する必要があります。