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1.はじめに

2.使用される単語

3.文法定義表記方法

4.文法定義

4.1 BSDLの構造

4.2 Generic

parameter文

4.3 Logical port

description文

4.4 Standard use文

4.5 Use文

4.6 Compornent

conformance文

4.7 Device package

pinmappings文

4.8 Grouped port

identification文

4.9 Scan port

identification文

4.10 Compliance enabel

description文

4.11 Instruction register

description文

4.12 Optional register

description文

4.13 Register access

description文

4.14 Boundary register

description文

4.15 RUNBIST

description文

4.16 INTEST description

4.17 User extensions

to BSDL

4.18 Design Warning文

 

5.Standard VHDL

Package

5.1 1990年版

5.2 1994年版

5.3 2001年版

 

6.各バージョンにおける

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4.9 Scan port identification 

scan port identification はデバイスのバウンダリスキャン制御信号の定義を行います。

<scan port identification> ::=

<TCK stmt> <TDI stmt> <TMS stmt> <TDO stmt> [ <TRST stmt> ] 

<TCK stmt> ::=

attribute TAP_SCAN_CLOCK of <port ID>

: signal is ( <clock record> );

<TDI stmt> ::=

attribute TAP_SCAN_IN of <port ID>

signal is true;

<TMS stmt> ::=

attribute TAP_SCAN_MODE of <port ID>

: signal is true;

<TDO stmt> ::=

attribute TAP_SCAN_OUT of <port ID>

: signal is true;

<TRST stmt> ::=

attribute TAP_SCAN_RESET of <port ID>

: signal is true;

<clock record> ::= <real number> , <halt state value>
<halt state value> ::= LOW | BOTH

<TCK stmt> , <TDI stmt> , <TMS stmt> , <TDO stmt> , <TRST stmt> 定義文は各バウンダリスキャン制御信号のピン名定義を行います。

<TCK stmt> 文の <clock record> の要素である <real number> はTCKの最高動作周波数を示しています。又、<halt state value> はテスト信号を保持できるTCKの状態を示しており、BOTH であれば “L” 又は “H” のどちらの状態でもTCKを停止できます。

 

例:

attribute TAP_SCAN_IN of TDI : signal is true;
attribute TAP_SCAN_MODE of TMS : signal is true;
attribute TAP_SCAN_OUT of TDO : signal is true;
attribute TAP_SCAN_CLOCK of TCK : signal is (20.0e6, BOTH);