デバッグソリューションズホームへ

1.はじめに

2.Test Access Port

3.BS周辺回路

4.TAPコントローラ

5.インストラクションレジスタ

6.Testデータレジスタ

7.BS試験例

8.インフラ試験

9.BS試験

  DEBSOLホームへ

9.バウンダリスキャン試験

ベクタ試験はバウンダリスキャンチェイン上のデバイス間のネットの正常性を試験します。試験のシーケンスは以下のようになります。

(1)Test Logic Rsetの後、インストラクションレジスタにSample/Preload命令のデータをセットします(下図(a))。これによりTDiから入力されたデータが、バウンダリスキャンレジスタにシフトし終えるまで出力ピンからバウンダリスキャンレジスタのデータは出力されません。

(2)Shift_DRを実行して出力ピンから出力するテストデータをTDiからシリアル入力します(下図(b))。

(3)目的のデータをバウウンダリスキャンレジスタにセットしたら、インストラクションレジスタにEXTEST命令のデータをセットします(下図(c))。これにより、バウウンダリスキャンレジスタにセットされた値が外部ピンに出力されます。

(4)次にCapture_DRを実行し、入力ピンの状態をバウウンダリスキャンレジスタに取り込みます。更にShift_DRを実行してバウウンダリスキャンレジスタの値をシフトさせ、TDoからシリアル出力します(下図(d))。

(5)取り込んだ値から、出力ピンから出力した値と対応する入力ピンの値を比較し、ネットの正常性を確認します。

 

拡大表示

(a)Sample/Preload命令の実行

拡大表示

(b)テストデータのセット(続き)

拡大表示

(c)EXTEST命令の実行(続き)

拡大表示

(d)バウンダリスキャンレジスタデータの取り込み(続き)