４．ＴＡＰコントローラ

４．１　ＴＡＰコントローラ概要

ＴＡＰコントローラはＴＣＫとＴＭＳ信号の組み合わせで変化するステートマシンを持っています。このステートマシンの状態遷移の中で、データの入出力や、インストラクションの入力／実行を制御します。

４．２　ＴＡＰコントローラの状態遷移

ＴＡＰコントローラはＴＣＫとＴＭＳ信号からなるシーケンス回路で、バウンダリスキャンデバイス内の全てのコントロールを行ないます。その動作は以下のシーケンスマップで表現されます。ＴＭＳ信号はＴＣＫの立ち上がりエッジで取り込まれ、その時のレベル（”０”　ｏｒ　”１”）でシーケンスが遷移します。又実行はＴＣＫの立ち下がりエッジ又は立ち上がりエッジで変化します。

（１）Ｔｅｓｔ　Ｌｏｇｉｃ　Ｒｅｓｅｔ

Ｔｅｓｔ　Ｌｏｇｉｃ　Ｒｅｓｅｔ　はバウンダリスキャンステートのリセットステートです。このステートでは、チップのシステムロジックに対して影響を与えません。電源投入時やＴＲＳＴ信号に“Ｌ”を入力することで、このステートに遷移します。又、ＴＭＳ信号に“Ｈ”レベルを５ＣＬＫ間保つことで、どのシーケンスステートから　Ｔｅｓｔ　Ｌｏｇｉｃ　Ｒｅｓｅｔ　ステートに移るようになっています。

もし、ＴＣＫ信号の立ち上がり時に、ノイズ等の理由で、ＴＭＳ信号に“Ｌ”レベルが入力され、Ｔｅｓｔ　Ｌｏｇｉｃ　Ｒｅｓｅｔ　ステートから　Ｒｕｎ-Ｔｅｓｔ/Ｉｄｌｅ　に状態が遷移したとしても、ＴＭＳ信号に“Ｈ”レベルが入力されれば、ＴＣＫ信号の３ＣＬＫで　Ｔｅｓｔ　Ｌｏｇｉｃ　Ｒｅｓｅｔ　ステートに遷移します。又この状態遷移における　Ｒｕｎ-Ｔｅｓｔ/Ｉｄｌｅ　⇒　Ｓｅｌｅｃｔ-ＤＲ-Ｓｃａｎ　⇒　Ｓｅｌｅｃｔ-ＩＲ-Ｓｃａｎ　のステートではバウンダリスキャンテスト回路は有効にならず、システムロジックには影響を与えません。

（２）Ｒｕｎ-Ｔｅｓｔ/Ｉｄｌｅ

Ｒｕｎ-Ｔｅｓｔ/Ｉｄｌｅ　は　試験の実行、または　Ｔｅｓｔ　Ｌｏｇｉｃ　Ｒｅｓｅｔ　からの通過（Ｉｄｌｅ）ステートです。“Ｌ”レベルを保つことで無限にこのステートにとどまることができます。ある特定のインストラクションが選択されているとき、Ｒｕｎ-Ｔｅｓｔ/Ｉｄｌｅ　ステートでバウンダリスキャンテスト回路が有効になります。例えば、インストラクションレジスタにＲＵＮＢＩＳＴ　がセットされている場合　Ｒｕｎ-Ｔｅｓｔ/Ｉｄｌｅ　ステートでチップの自己診断テストを行います。　

（３）Ｓｅｌｅｃｔ-ＤＲ-Ｓｃａｎ

データレジスタを制御するシーケンスへの移行を選択する一時的なステートです。

（４）Ｃａｐｔｕｒｅ-ＤＲ

Ｃａｐｔｕｒｅ-ＤＲ　ステートではＴＣＫの立ち上がりエッジで、入力ピンに対しては、ピンの状態をバウンダリスキャンセル内のシフトレジスタ（Ｔｅｓｔ　Ｄａｔａ　Ｒｅｇｉｓｔｅｒ）に取り込む動作を行い、出力ピンに対しては内部ロジックが出力している状態をシフトレジスタに設定する動作を行います。

（５）Ｓｈｉｆｔ-ＤＲ

Ｓｈｉｆｔ-ＤＲ　ステートを実行すると、ＴＣＫの立ち上がりエッジで、シフトレジスタ（Ｔｅｓｔ　Ｄａｔａ　Ｒｅｇｉｓｔｅｒ）内のデータの１ビットシフトが実行され、ＴＤｉからデータが取り込まれ、シフトレジスタの最後のデータがＴＤｏから出力されます。必要な回数分このステートを繰り返すことで、テストパターンデータのセットや、ＴＤｏからの試験結果の出力を行います。

（６）Ｅｘｉｔ１-ＤＲ

Ｅｘｉｔ１-ＤＲ　は、　Ｓｈｉｆｔ-ＤＲ　終了後、　Ｕｐｄａｔａ-ＤＲ　に移行するか、　Ｐａｕｓｅ-ＤＲ　に移行するかを選択する一時的なステートです。このステートでは現在のインストラクションで選択された　Ｔｅｓｔ　Ｄａｔａ　Ｒｅｇｉｓｔｅｒ　のデータは変化しません。

（７）Ｐａｕｓｅ-ＤＲ

Ｐａｕｓｅ-ＤＲ　はテストパターンデータのシフトを一時的に停止するためのステートです。このステートでは現在のインストラクションで選択された　Ｔｅｓｔ　Ｄａｔａ　Ｒｅｇｉｓｔｅｒ　のデータは変化しません。

（８）Ｅｘｉｔ２-ＤＲ

Ｅｘｉｔ２-ＤＲ　は、　Ｓｈｉｆｔ-ＤＲ　に戻るか、　Ｕｐｄａｔａ-ＤＲ　に移行するかを選択する一時的なステートです。このステートでは現在のインストラクションで選択された　Ｔｅｓｔ　Ｄａｔａ　Ｒｅｇｉｓｔｅｒ　のデータは変化しません。

（９）Ｕｐｄａｔｅ-ＤＲ

Ｕｐｄａｔａ-ＤＲ　では、ＴＣＫの立ち下がりエッジで、シフトレジスタの値を出力ラッチにセットします。

（１０）Ｓｅｌｃｔ-ＩＲ-Ｓｃａｎ

インストラクションレジスタを制御するシーケンスへの移行を選択する一時的なステートです。

（１１）Ｃａｐｔｕｒｅ-ＩＲ

Ｃａｐｔｕｒｅ-ＩＲ　を実行すると、ＴＣＫの立ち上がりエッジで、ＩＲステータスワード（デバイスに定義された固定パターン）がインストラクションレジスタに設定されます。 

（１２）Ｓｈｉｆｔ-ＩＲ

Ｓｈｉｆｔ-ＩＲ　ステートを実行すると、ＴＣＫの立ち上がりエッジで、インストラクションレジスタ内のデータの１ビットシフトが実行され、ＴＤｉからデータが取り込まれ、又シフトレジスタの最後のデータがＴＤｏから出力されます。必要な回数分このステートを繰り返すことで、インストラクションデータのセットや、ＴＤｏからのＩＲステータスワードの取り出しを行います。

（１３）Ｅｘｉｔ１-ＩＲ

Ｅｘｉｔ１-ＩＲ　は、　Ｓｈｉｆｔ-ＩＲ　終了後、　Ｕｐｄａｔｅ-ＩＲ　に移行するか、　Ｐａｕｓｅ-ＩＲ　に移行するかを選択する一時的なステートです。

（１４）Ｐａｕｓｅ-ＩＲ

Ｐａｕｓｅ-ＩＲ　はインストラクションレジスタのシフトを一時的に停止するためのステートです。このステートでは現在のインストラクションレジスタのデータは変化しません。

（１５）Ｅｘｉｔ２-ＩＲ

Ｅｘｉｔ２-ＩＲ　は、Ｓｈｉｆｔ-ＩＲ　に戻るか、　Ｕｐｄａｔｅ-ＩＲ　に移行するかを選択する一時的なステートです。

（１６）Ｕｐｕｄａｔｅ-ＩＲ

Ｕｐｄａｔｅ-ＩＲ　はＴＣＫの立ち下がりエッジで、シフトレジスタの値をインストラクションレジスタにセットします。インストラクションレジスタにセットされたインストラクションが、以後、実行されるインストラクションとなります。