1.はじめに
2.Test Access Port
3.BS周辺回路
4.TAPコントローラ
5.インストラクションレジスタ
6.Testデータレジスタ
7.BS試験例
8.インフラ試験
9.BS試験
7.バウンダリスキャン試験例
バウンダリスキャン試験の詳細を説明するにあたって、例として以下の回路を用いた試験を考えます。
上記の回路におけるバウンダリスキャンレジスタのセルのつながりは、SN74BCT8244とSN74BCT8374のBSDLファイル定義より以下の図のようになります。