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1.はじめに

2.Test Access Port

3.BS周辺回路

4.TAPコントローラ

5.インストラクションレジスタ

6.Testデータレジスタ

7.BS試験例

8.インフラ試験

9.BS試験

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8.インフラ試験

インフラ試験は試験を行なうための制御信号(TCK,TMS,TDi,TDo)の正常性を確認するための試験です。インフラ試験はインストラクションキャプチャワードをチェックすることで行います。インストラクションキャプチャワードとは、TAPコントローラに対して CAPTURE_IR を実行時に、インストラクションレジスタに設定されるデバイスに特有な値(下位2ビットが“01”他のビットは各デバイスで異なる)のことで、その値はBSDLファイルに定義されています。

インフラ試験のタイミングチャートを以下に示します。

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Test Logic Rsetの後、『6.TAPコントローラの仕組み』のTAPコントローラの状態遷移図に基づいてTMSに”0110”を入力すると、RUN_TEST/IDLE → SELECT_DR_SCAN → SELECT_IR_SCAN → CAPTURE_IR へ遷移します。CAPTURE_IRへ遷移した時にスキャンチェイン上の全てのバウンダリスキャンデバイスでインストラクションキャプチャワードがインストラクションレジスタにラッチされます。(@)その後、スキャンチェインを構成するデバイスのインストラクションレジスタの合計回数、SHIFT_IRを実行することでTDoからインストラクションキャプチャワードが出力されます。(A)

TDoから出力されるインストラクションキャプチャワードをデバイス毎に比較することで、バウンダリスキャン制御信号(TCK,TMS.TDi,TDo)の接続不良を検出することができます。スキャンチェイン上のデバイスでバウンダリスキャン制御信号に接続不良があった場合、接続不良のデバイスとTDiポートの間のデバイスのインストラクションキャプチャワードの比較は全てエラーとなります。