８．インフラ試験

インフラ試験は試験を行なうための制御信号（ＴＣＫ，ＴＭＳ，ＴＤｉ，ＴＤｏ）の正常性を確認するための試験です。インフラ試験はインストラクションキャプチャワードをチェックすることで行います。インストラクションキャプチャワードとは、ＴＡＰコントローラに対して　ＣＡＰＴＵＲＥ＿ＩＲ　を実行時に、インストラクションレジスタに設定されるデバイスに特有な値（下位２ビットが“０１”他のビットは各デバイスで異なる）のことで、その値はＢＳＤＬファイルに定義されています。

インフラ試験のタイミングチャートを以下に示します。

Ｔｅｓｔ　Ｌｏｇｉｃ　Ｒｓｅｔの後、『６．ＴＡＰコントローラの仕組み』のＴＡＰコントローラの状態遷移図に基づいてＴＭＳに”０１１０”を入力すると、ＲＵＮ＿ＴＥＳＴ／ＩＤＬＥ　→　ＳＥＬＥＣＴ＿ＤＲ＿ＳＣＡＮ　→　ＳＥＬＥＣＴ＿ＩＲ＿ＳＣＡＮ　→　ＣＡＰＴＵＲＥ＿ＩＲ　へ遷移します。ＣＡＰＴＵＲＥ＿ＩＲへ遷移した時にスキャンチェイン上の全てのバウンダリスキャンデバイスでインストラクションキャプチャワードがインストラクションレジスタにラッチされます。（�@）その後、スキャンチェインを構成するデバイスのインストラクションレジスタの合計回数、ＳＨＩＦＴ＿ＩＲを実行することでＴＤｏからインストラクションキャプチャワードが出力されます。（�A）

ＴＤｏから出力されるインストラクションキャプチャワードをデバイス毎に比較することで、バウンダリスキャン制御信号（ＴＣＫ，ＴＭＳ．ＴＤｉ，ＴＤｏ）の接続不良を検出することができます。スキャンチェイン上のデバイスでバウンダリスキャン制御信号に接続不良があった場合、接続不良のデバイスとＴＤｉポートの間のデバイスのインストラクションキャプチャワードの比較は全てエラーとなります。